La microscopie électronique à transmission ou TEM, et la microscopie électronique à balayage, ou SEM, sont deux types spécialisés d'imagerie à fort grossissement. Les deux systèmes utilisent différentes méthodes pour cartographier les échantillons, et d'interagir avec des échantillons. Des échantillons pour chaque type d'image doivent être préparées d'une manière unique. SEM et TEM méthodes d'imagerie offrent des niveaux de résolution différents.
SEM
SEM est un type d'imagerie électronique qui ne balaye la surface d'un échantillon. imagerie SEM capture des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés afin de cartographier une image. Les échantillons utilisés dans l'imagerie SEM doivent être préparés sur les talons d'aluminium spécialisés, au lieu des lames de verre utilisées en microscopie optique.
TEM
D'autre part, MET est également un type d'imagerie électronique, mais le balayage MET tramsits à travers un échantillon. Cela permet aux scientifiques de regarder au-delà de la surface des matériaux particulaires de l'échantillon. Les échantillons destinés à être utilisés dans l'analyse TEM ne peuvent être lus lorsqu'ils sont préparés sur une grille de TEM pris en charge.
capacités SEM
Dans SEM, l'échantillon examiné est maintenu dans une chambre au fond du microscope. Ces microscopes ont tendance à projeter leurs résultats grâce à un écran de télévision, bien que cela puisse varier selon le modèle. imagerie SEM peut atteindre des résolutions allant jusqu'à deux nanomètres et niveaux de grossissement allant jusqu'à 200 000 fois.
Capacités TEM
systèmes TEM lire les échantillons en les logeant dans un milieu de la scène spécialisée dans la colonne des machines. systèmes de TEM ont tendance à afficher les résultats sur écrans fluorescents, mais offrent un pouvoir de résolution considérablement augmenté au cours de l'imagerie SEM. microscopes électroniques à transmission peuvent atteindre des niveaux allant jusqu'à 500 000 fois de grossissement.