les portes NAND sont un élément de logique commune utilisée dans de nombreux circuits électroniques. La configuration la plus courante est une porte NON-ET à deux entrées, bien que les configurations avec plusieurs entrées sont communes. Une porte NON peut être soit un circuit discret, généralement monté dans un boîtier en ligne double petit (DIP), ou incorporé dans un circuit intégré plus large. Une puce à microprocesseur contient des millions de portes NAND ou leurs équivalents. Une porte NON-ET fonctionne en délivrant en sortie un haut logique à moins que les deux entrées sont logique haut, auquel cas sa sortie est une valeur logique basse.
Instructions
Test NAND fonction de validation
1 Lire la spécification électrique pour la porte NON-ET et identifier les niveaux suivants: VOH, VOL, et VIL VIH. Ceux-ci sont la sortie et l'entrée des tensions pour les signaux haute et basse logiques. A noter également les tensions d'alimentation nécessaires (Vdd et VGND).
2 Définissez la première alimentation en tension programmable à Vdd. Connecter le fil positif de cette alimentation à la broche Vdd de la porte NON-ET, et connecter le fil négatif à la Vss ou broche de terre de la porte NON-ET.
3 Réglez la deuxième source de tension programmable à VIL. Branchez le câble de masse de cette alimentation au fil de terre de la première alimentation.
4 Réglez la troisième source de tension programmable à VIH. Branchez le câble de masse de cette alimentation au fil de terre de la première alimentation.
5 Connecter le fil positif de l'alimentation VIL aux deux entrées de la porte NON-ET. Utiliser le voltmètre pour mesurer la tension entre la sortie de la porte NON-ET et la masse. Elle doit être supérieure à la spécification de VOH.
6 Connecter le fil positif de l'alimentation VIH aux deux entrées de la porte NON-ET. Utiliser le voltmètre pour mesurer la tension entre la sortie de la porte NON-ET et la masse. Elle doit être inférieure à la spécification VOL.
7 Connecter le fil positif de l'alimentation de VIH à une entrée de la porte NON-ET et le fil positif de l'alimentation VIL à l'autre entrée. La tension à la sortie de la porte NON-ET doit être inférieure à VOH. Inverser les entrées et vérifier la sortie reste en dessous VOH.
Test NAND porte Délai de propagation
8 Branchez le bloc d'alimentation Vdd et la masse à la porte NON-ET.
9 Connecter le fil positif de VIL offre à une entrée de la porte NON-ET. Raccorder la masse au sol de l'alimentation Vdd.
dix Programmer le générateur de signal pour délivrer un seul faible à élevé transition. Connecter le générateur de signaux à l'autre entrée de la porte NON-ET.
11 Connecter un canal de l'oscilloscope pour le générateur de signal et le second canal à la sortie de la porte NON-ET. Programme de l'oscilloscope pour le bord de déclenchement et la capture ..
12 Initier une transition unique à partir du générateur de signaux. L'oscilloscope capturer à la fois l'entrée et la sortie de la porte NON-ET. La différence de temps entre le passage de ces signaux est le retard de propagation de la porte NON-ET.
13 Répétez l'étape précédente avec une transition haut-bas.
14 Echanger les connexions sur les entrées, et capturer les retards de propagation sur l'autre entrée.
Conseils et avertissements
- Ne jamais appliquer une tension à une entrée sans Vdd étant fourni à la porte NON-ET. dommages de circuit peut entraîner.
- portes NAND ont presque jamais des problèmes de retard de propagation, et la deuxième partie de la procédure est souvent ignorée.
- En fonction de la technologie de fabrication et procédé, les noms de signaux dans cet article peuvent être différents de ceux qui sont utilisés dans la description.
- Si vous n'êtes pas concernés par la sensibilité de la tension d'entrée, un bloc d'alimentation peut être utilisé pour la fonction de test NAND Gate. Utilisez le Vdd approvisionnement fil positif pour générer VIH, et le fil de terre pour générer VIL.
- La température peut affecter toutes les tensions et le calendrier des mesures d'une porte NON-ET. Veillez à tester à la température de fonctionnement. Ne pas dépasser la plage de température spécifiée.